新聞中心
  制造企業(yè)可靠性工程能力評(píng)價(jià)要求(2023-12-18 )
  制造企業(yè)可靠性工程能力評(píng)價(jià)要求(2023-12-18 )
  關(guān)于征集可靠性相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)起草參編單位的通知(2022-04-06 )
  關(guān)于征集可靠性相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)起草參編...(2022-04-06 )
  廣州然因普電子科技有限公司網(wǎng)站升級(jí)成功!(2021-08-04 )
  廣州然因普電子科技有限公司網(wǎng)站...(2021-08-04 )
  中國(guó)電子質(zhì)量管理協(xié)會(huì)可靠性工作部征集可靠性專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)(2021-08-02 )
  中國(guó)電子質(zhì)量管理協(xié)會(huì)可靠性工作...(2021-08-02 )
  電子產(chǎn)品失效分析技術(shù)服務(wù)介紹(2021-04-26 )
  電子產(chǎn)品失效分析技術(shù)服務(wù)介紹(2021-04-26 )
  公司地址變更告知(2021-04-16 )
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  電子產(chǎn)品的故障分析和排除(2022-01-08 )
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  單片機(jī)硬件可靠性設(shè)計(jì)解決方案(2022-01-08 )
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  硬件可靠性設(shè)計(jì)要考慮哪些?(2022-01-08 )
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  FPC電鍍工藝知識(shí),了解一下!(2021-11-18 )
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  如何使用萬(wàn)用表判別普通IC集成電路的好壞(2021-11-18 )
  如何使用萬(wàn)用表判別普通IC集成電...(2021-11-18 )
  2021年Chiplet技術(shù)該如何發(fā)展(2021-11-18 )
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  然因普2018年獲得高新技術(shù)企業(yè)證書(shū)(2019-05-28 )
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  然因普發(fā)展理念:科學(xué)、務(wù)實(shí)、嚴(yán)謹(jǐn)、服務(wù)(2017-10-09 )
  然因普發(fā)展理念:科學(xué)、務(wù)實(shí)、嚴(yán)...(2017-10-09 )工程案例
培訓(xùn)中心
  電子產(chǎn)品及元器件失效分析技術(shù)與經(jīng)典案例解析(2024-10-29 )
  電子產(chǎn)品及元器件失效分析技術(shù)與經(jīng)典案例解析(2024-07-10 )
  產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)、試驗(yàn)、失效分析應(yīng)用技術(shù)及案例分析(2024-07-10 )
  2024年3月15-19日《可靠性工程師》(高級(jí))(2024-03-13 )
  電子產(chǎn)品及元器件失效分析技術(shù)與經(jīng)典案例解析(2023-12-04 )
  《可靠性試驗(yàn)技術(shù)與加速試驗(yàn)方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用》(2023-12-04 )
  電子電氣產(chǎn)品(設(shè)備)靜電防護(hù)技術(shù)(2019-01-04 )
  電子產(chǎn)品及元器件失效分析技術(shù)與經(jīng)典案例解析(2019-01-04 )
  《電子元器件失效分析技術(shù)及經(jīng)典案例》培訓(xùn)課程(2017-08-14 )
  《全面可靠性工程》培訓(xùn)課程(2017-08-14 )
  《可靠性試驗(yàn)技術(shù)與評(píng)價(jià)方法》培訓(xùn)課程(2017-08-14 )
  《可靠性基礎(chǔ)、可靠性設(shè)計(jì)與分析技術(shù)》培訓(xùn)課程(2017-08-14 )
  《電子制造企業(yè)的靜電防護(hù)技術(shù)》培訓(xùn)課程(2017-08-14 )
  《環(huán)境試驗(yàn)技術(shù)》培訓(xùn)課程(2017-08-14 )可靠性之窗
有源醫(yī)療器械使用期限注冊(cè)技術(shù)審查指導(dǎo)原則
有源醫(yī)療器械可實(shí)現(xiàn)對(duì)疾病的診斷、預(yù)防、監(jiān)護(hù)和治療等功能,為了在臨床使用中維持上述功能,醫(yī)療器械注冊(cè)申請(qǐng)人/注冊(cè)人需確定產(chǎn)品的使用期...
失效定位技術(shù)
(1)顯微紅外熱像分析技術(shù) 電子元器件的芯片在通電工作過(guò)程中會(huì)發(fā)熱。由于芯片各部位的電流強(qiáng)度不等,芯片表面的溫度不同,正常芯片...
電激勵(lì)分析技術(shù)
以測(cè)量電壓效應(yīng)為基礎(chǔ)的失效定位技術(shù) 集成電路的復(fù)雜性決定了失效定位在失效分析中的關(guān)鍵作用。打開(kāi)封裝后,用顯微鏡看不到失效部位時(shí)...
專(zhuān)業(yè)專(zhuān)注
企業(yè)可靠性技術(shù)體系輔導(dǎo)
單個(gè)模塊的可靠性技術(shù)輔導(dǎo)